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北京聚盟致遠科技有限公司
SunScan專業版植物冠層分析儀一、用途:簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射(PAR)的系統,提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)
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SunScan專業版植物冠層分析儀 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
一、 用途: 簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射(PAR)的系統,提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)。SunScan冠層分析系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用,可以在大多數光照條件下進行測量工作(但是是在接近中午的時候)。專業版比標準版配置上增加了BF5日照傳感器,用來參照測量直接和散射的入射光,提高測量精度。
二、 特點: u 在植物冠層中測量入射和投射光量子(PAR); u 直接顯示葉面積指數(LAI); u 可在陰天使用,不需要考慮特殊的天氣條件; u 便攜和防雨設計,采用電池供電; u 數據可自動采集,采樣間隔時間1~24小時可選; u 單獨SunScan探頭可作為線性光量子傳感器使用,可直接連接數據采集器使用。 三、 技術規格:
四、 產地: 英國 |
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