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廣州鴻熙電子科技有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
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更新時間：2022-09-25 14:00:37瀏覽次數(shù)：337次
聯(lián)系我時，請告知來自 智慧城市網(wǎng)多毛細(xì)管配置X射線熒光測厚儀1.鍍層檢測，多鍍層檢測可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性高（見以下產(chǎn)品特征詳述）。2.多導(dǎo)毛細(xì)管配置，光斑尺寸30um3.平臺尺寸：250*220mm（X*Y），平臺移動范圍160*160*90mm（X*Y*Z）4.激光定位。5.擅長檢測PCB、FPC線路板及其他精密電鍍層厚度。6.運行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。7.可進(jìn)行未知標(biāo)樣
多毛細(xì)管配置X射線熒光測厚儀
iEDX-150μT
工作條件 | |
●工作溫度：15-30℃ | ●電源：AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度：<70%，無結(jié)露 | ●功率：200W + 550W |
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
（一）產(chǎn)品優(yōu)勢
（二）產(chǎn)品特征
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。
多鍍層厚度同時測量
4.1 單性金屬鍍層厚度測量。
4.2 合金鍍層厚度測量。
4.3 雙鍍層厚度測量。
4.4 雙鍍層（其中一層是合金）厚度測量。
4.5 三鍍層厚度測量。
4.6 測試精度及穩(wěn)定性
電鎳金，化鎳金：
當(dāng)Au≥0.05um，Ni(NiP)≥3um時，測量時間30S，
準(zhǔn)確度：Au≤±2% ，Ni≤±3%
度：Au≤2% ，Ni≤2%;
化鎳鈀金：
測量標(biāo)準(zhǔn)片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.1/3um，測量時間45秒，
準(zhǔn)確度：Au≤±4% ，Pd≤±6% ，Ni≤±5%，
度：Au≤3% ，Pd≤5% ，Ni≤3%
注：準(zhǔn)確度公式：準(zhǔn)確度百分比=（測試10次的平均值-真值）/真值*99%）；
度COV公式：（標(biāo)準(zhǔn)偏差S/10次平均值）*99%
產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
u 測量原理：能量色散X射線分析 | u 樣品類型：印制電路板，金屬電鍍產(chǎn)品 |
u X射線光管：50KV，1mA | u準(zhǔn)直系統(tǒng)：多毛細(xì)管X射線聚能裝置 |
u檢測系統(tǒng)：SDD探測器 | u能量分辨率：125±5eV |
u檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u小光斑：30um |
u應(yīng)用程序語言：韓／英／中 | u分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光 |
u儀器尺寸：770*530*500mm（深*寬*高） | uXYZ平臺移動距范圍：160*160*90mm（XYZ） |
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 射線管陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。
能量分辨率：125±5eV
6. 分析譜線：
- 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）
- 基點改正（基線本底校正）
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 大放大倍數(shù)：720X
- 照明方法：上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計算機(jī)、打印機(jī)（贈送）
注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器，需另計。
軟件說明
1．儀器工作原理說明
多毛細(xì)管配置X射線熒光測厚儀
1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
2) 軟件標(biāo)定
- 單點標(biāo)樣標(biāo)定進(jìn)行多層分析
- 多點標(biāo)樣標(biāo)定進(jìn)行多層分析
- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能
3) 軟件校正功能：
- 基點校正（基線本底校正）
- 多材料基點校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等
4) 軟件測量功能：（多毛細(xì)管配置X射線熒光測厚儀）
- 快速開始測量
- 快速測量過程
- 自動測量條件設(shè)定（光管電流，濾光片，ROI）
5) 自動測量功能（軟件平臺）
- 同模式重復(fù)功能
- 確認(rèn)測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開始點設(shè)定功能（每個文件中存儲原始數(shù)據(jù)）
- 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 （KLM 標(biāo)記方法）
- 每個能量/通道元素ROI光標(biāo)
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能（強(qiáng)度、能量）
多毛細(xì)管配置X射線熒光測厚儀
7） 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測統(tǒng)計值： 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 大值。
- 小值、測量范圍，N 編號、 Cp、 Cpk，
- 獨立曲線顯示測量結(jié)果。
- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8）其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數(shù)調(diào)整
- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
- Multi-Ray自動輸出檢測報告（HTML，Excel）
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護(hù)。
- 自動校準(zhǔn)功能；
- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境；
- 自動校準(zhǔn)過程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。
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