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上海無陌光學儀器有限公司
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偏光熱臺顯微鏡系統（偏光熔點測定儀）是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等常用的實驗儀器。 ： / 服務承諾：一年保修，終身維護 標簽： 偏光顯微鏡 推薦產品 WMJ-9870半導體\FPD檢查顯微鏡 ZOOM-2800大平臺立體顯微鏡 WMF-3580研究型熒光顯微鏡 ......
一、儀器用途
偏光熱臺顯微鏡系統（偏光熔點測定儀）是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等常用的實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示準確、清晰、穩定，對溫度控制可設定程序，設有“上、下"限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數據，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產品。
二、系統簡介
熱臺偏光顯微鏡（偏光熔點測定儀）系統是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、計算機圖像處理技術更好地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、偏光熱臺簡介
WMP-6503型精密溫控加熱臺是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化和。該儀器采用人性化“傻瓜"設計，自動化程度高，操作簡單，技術*，性能優良，結構新穎可靠。
加熱臺由精密溫度控制儀和載物恒溫工作臺二部分組成，二者由一5芯線纜插口連接， 載物恒溫工作臺置于光學或電子顯微鏡載物臺上。特別適用配合偏光顯微鏡構成偏光熔點測量系統。
儀器特點：
●精密溫度控制儀顯示窗口由上下二排四組數子及文字（英文）組成。上排 ：測量顯示組，下排 ：設定顯示組
●在任何情況下均可根據需要隨時改變溫度設定。
●時間溫度曲線為一理想直線,調整升溫速度時只改變其斜率。
●即刻恒溫，在升溫過程中的任意時刻按下此扭后,系統立即自動停止升溫，并恒溫在按下此扭時的即刻溫度上。
高精度偏光熱臺(WRX-1S)參數
①恒溫范圍：室溫---400℃, 恒溫精度：全范圍≤±0.5℅, 恒溫系統波動度：±1℃
②溫度速度：可設置升溫速度范圍(可調)：0.5---36秒/℃
升溫速度：室溫---100℃≤40秒; 最慢升溫速度達36秒/℃,達400℃時間：240分鐘
即刻恒溫響應時間：≤0.01秒
③熱臺尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高溫區: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
④熱臺的外體與高溫度采用三根陶瓷分開隔熱;在中心溫度400℃,室溫25℃時,熱臺外
體溫度≤70℃,熱臺載物重量：200克
⑤熱臺傳感器:高精度的雙傳感器,連接熱臺與溫控儀
四、系統組成
電腦型偏光熱臺（WMP-6503C）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、熱臺 6、計算機
偏光顯微鏡標準配置（熱臺可搭配無陌光學任意一款偏光顯微鏡 ）
型號 | WMP-6503究型偏光顯微鏡 |
目鏡 | 大視野 WF10X(Φ22mm) |
分劃目鏡10X(視場數Φ22mm) 格值0.10mm/格 | |
物鏡 | 無應力平場消色差物鏡(無蓋玻片) |
PL L5X/0.12 工作距離：26.1 mm | |
PL L10X/0.25 工作距離：20.2 mm | |
PL L40X/0.60（彈簧） 工作距離：3.98 mm | |
PL L60X/0.70（彈簧） 工作距離：3.18 mm | |
落射照明系統 | 6V30W鹵素燈，亮度可調 |
起偏器可360°旋轉 | |
檢偏器可360?旋轉,帶刻度和微動游標, | |
內置視場與孔徑光闌 | |
轉換器 | 四孔(轉換器中心可調) |
中間接筒 | 推入式勃氏鏡 |
補償器 | λ , λ/4與石英鍥補償器 |
目鏡筒 | 三目鏡傾斜30?, 可進行99%透光攝影 |
調焦機構 | 粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm |
防霉 | 有防霉系統 |
系統組成 | 電腦型(WMP-6508C):1.偏光顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器(CCD) 4.計算機（選購） |
數碼型(WMP-6508D): 1.偏光顯微鏡 2.適配鏡 3.數碼相機（選購） |
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