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北京博電新力電氣股份有限公司
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博電科技PST6747A半導體參數分析儀是一款測量與分析功率半導體器件I-V特性的專用儀器，能 在3kV （可擴展為10kV）和2200A的條件下實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。 PST6747AM有快脈沖能力，以及fA電流檢測能力，并具有優異的寬電壓和電流測量能力。這些功能能夠對的器件（例如IGBT）和新型材料（例如GaN和SiC）進行測量。PST6747A由多個獨立的高精度源組成，包括P6701B 3kV高壓高精度源、P6703B高精度源和 P6705A 2200AX電流源等組成。每個功率源模塊上配備兩個獨立的模數（AD）轉換器支持2µs采樣率，每個模塊上的驅動能夠獨立精確控制，對有可能影響器件特性的關鍵參數進行精確監測。對于測量功率器件和電源電路，該儀器更便于使用，有更好的數據分析能力，同時利用 博電科技自主研發的軟件也簡化了對測量數據的管理，能夠依據用戶的需求進行定制，讓用戶有 更好的使用體驗。
PST6747A半導體測試系統經博電科技研發團隊持續技術攻關，于2020年研制成功并供應客戶，實現我國在功率半導體分析儀器裝備方向有力替代進口同類產品。PST6747A是臺具有快脈沖、精度分辨fA電流檢測、寬電壓/電流測量能力的半導體測試系統。
PST6747A半導體測試系統解決了基于國產檢測設備實現主流功率器件（IGBT、MOSFET、GTO）和新型材料（GaN、SiC）等功率半導體器件的靜態全參數測試難題。產品已應用于應用單位、科研院所、運維、生產等各大半導體研究院所和高校等使用試用并獲得用戶好評。
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