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提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X3超聲波相控陣探傷設備

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更新時間：2024-01-17 11:51:44瀏覽次數：173次

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產品簡介

創新的全聚焦方式（TFM）顯示超微細節的TFM（全聚焦方式）圖像OmniScanX3探傷儀所提供的實時全聚焦方式（TFM）包絡處理功能，高達1024×1024的網格分辨率，以及色彩鮮亮的顯示屏，可使其全聚焦方式（TFM）圖像呈現出極為清晰的細節

詳細介紹

創新的全聚焦方式（TFM）

顯示超微細節的TFM

（全聚焦方式）圖像 OmniScan X3探傷儀所提供的實時全聚焦方式（TFM）包絡處理功能，高達1024 × 1024的網格分辨率，以及色彩鮮亮的顯示屏，可使其全聚焦方式（TFM）圖像呈現出極為清晰的細節。得益于較高的分辨率，圖中顯示的缺陷格外鮮明清晰。

提前確認覆蓋區域
聲學影響圖（AIM）工具可以基于用戶具體的模式、設置和模擬反射體，即刻提供靈敏度的可視化模型。
這個工具可以為用戶顯示聲波組的效果（在TFM模式下），使用戶看到靈敏度消失的位置，并對掃查計劃進行相應的調整。

探測到早期的高溫氫致
（HTHA）缺陷儀器的成像功能轉化為可以好、更精細地探測到高溫氫致（HTHA）缺陷的性能，從而可使用戶在損傷形成早期這個重要的時期探測到缺陷。

便于解讀缺陷和定量缺陷
可以****顯示4個不同角度的TFM模式圖像。這種圖像信息可使用戶更加充滿信心地識別缺陷和確定缺陷的深度。

改進的相控陣技術

提升效率的創新特性
脈沖重復頻率是 OmniScan MX2探傷儀的2倍。
單獨的衍射時差（TOFD）菜單，加快了工作流程。
改進的快速相控陣校準，減輕了操作人員的挫敗感。
800%的高波幅范圍，減少了重新掃查的需要。
機載雙晶線陣、雙晶矩陣探頭的支持性能，加速了創建設置的過程。

與現有的文件和設置相兼容
與現有的探頭和掃查器兼容。
與MX2/SX儀器的數據文件兼容：具有比較新舊數據的功能，并可以監控隨著時間的推移而產生的變化。
與MX/MX2/SX儀器的設置兼容，有助于程序達到合規要求。
與現有的文件和設置相兼容。

性能可靠，操作簡便

迅速地投入到檢測工作中
機載掃查計劃、改進的快速校準和簡化的用戶界面，省去了一些步驟，從而有助于確保在很短的時間內完成檢測的設置工作。
如果您是OmniScan MX2儀器的用戶，您可以從現有的儀器迅速地過渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測或全聚焦方式（TFM），您可以通過OmniScan X3探傷儀輕松地學習這些知識。

檢測團隊中的主力成員
OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶完成檢測工作。這些功能可以在以下應用中大顯身手：焊縫檢測、管線和管道的檢測、耐腐蝕合金的檢測、腐蝕成像、高溫氫致缺陷（HTHA）的檢測、初期裂紋的探測、復合材料的檢測、缺陷成像等等。

具備應對嚴峻挑戰的能力
無需停歇，持續掃查。
****25 GB的文件容量，可使用戶持續掃查大型組件而無需停歇。

青出于藍勝于藍的OmniScan儀器

符合IP65評級標準，防雨防塵。

冷卻風扇在無需打開儀器的情況下可由用戶自己更換，更換風扇后也無需進行校準。

機載GPS，可記錄采集數據的位置。

可通過無線方式連接到奧林巴斯科學云系統，因此用戶可以在新軟件發行之后盡快下載軟件。

原文標題：提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X3超聲波相控陣探傷設備

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