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半導體光耦晶振綜合測試系統

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參   考   價: 100001

訂  貨  量: ≥1 套

具體成交價以合同協議為準

產品型號BW-4022C

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地西安市

聯系方式:武先生查看聯系方式

更新時間:2025-03-11 17:04:27瀏覽次數:29次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:6條

所在地區:陜西西安市

聯系人:武先生 (產品經理)

產品簡介

BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。

詳細介紹

BW-4022C

半導體綜合測試系統




BW-4022C半導體綜合測試系統可同時針對:

光耦

適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。

二極管

Diode /穩壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。

壓敏電阻

〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。

【鋰亞電池】

〖Kelvin/電池空載電壓(Vbt)/負載電壓(Vbt_load ) /測試電流(0-10A 恒流 )/負載電壓變化值(▲Vbt_load)/電池內阻(Vbt Res) 等進行測試。

【晶振】

〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻(Ri)/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍(10kHz~10MHz)等測試。

【其他測試功能可定制拓展】【產品詳細參數資料請向廠家索要】

BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。

BW-4022C 半導體綜合測試系統采用大規模 32 位 ARM&MCU 設計, PC 中文操作界面,程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調用式菜單操作界面,測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,根據不同器件更換測試座配合,系統可適配設置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態參數測試。

該測試系統主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成,并接受客戶端MES系統進行測試指令:方案選取/開始/暫停/停止/數據上傳等操作執行,并可將測試數據上傳至MES系統由客戶端處理。

一、 設備規格與環境要求

物理規格

主機尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式

主機重量:<25kg

產品色系:白色系

工況環境

主機功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過 1500m;

環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或可燃性氣體,導電粉塵等;

供電要求

電源配置:AC220V±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續;

二、測試種類與技術指標

1、光耦測試:

輸入(Input)相關參數

·正向電壓

·反向電流

輸出(Output)相關參數

·集電極暗電流

·集電極 - 發射極擊穿電壓

·發射極 - 集電極擊穿電壓

·集電極電流(Collector Current)

·電流傳輸比(Current Transfer Ratio)

傳輸特性

·集電極 - 發射極飽和電壓

·隔離電阻(Isolation Resistance)

(以上參數基于晶體管LTV-816-Cu series特性參數)

·三極管管型光耦

·可控硅光耦

·繼電器光耦

2、二極管類測試

二極管類:二極管

二極管類:穩壓二極管

二極管類:穩壓二極管

·ZD(Zener Diode)

·Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz;

二極管類:三端肖特基二極管 SBD(SchottkyBarrierDiode)

二極管類: 瞬態二極管

二極管類:整流橋堆

二極管類:三相整流橋堆

3、壓敏電阻測試

·Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm 、 △Vr ;(參數配置精度與二極管一致)

4、鋰亞電池測試

·Kelvin(0~150mV)

·電池空載電壓(Vbt) 0-100V +-0.2%

·負載電壓(Vbt_load ) 0-100V +-0.5% 測試電流(0-10A 恒流 )

·負載電壓變化值(▲Vbt_load)0-10v +-5% 測試電流(0-10A 恒流 )

·電池內阻(Vbt Res) 0-10v +-5% 測試電流(0-10A 脈沖 )

5、晶振測試

·震蕩頻率(Freq_osc )

·諧振電阻(Ri)

·頻率精度(Freq_ppm)

·測試頻率范圍(10kHz~10MHz)

測試參數符號量程測試范圍測試條件測量精度
震蕩頻率Fosc10kHz~100kHz
100kHz~1MHz
1MHz~5MHz
5MHz~10MHz
10kHz~10MHz
0.1Hz
諧振電阻Rz0~100K

±10%
頻率精度ppm
0-1000
0.01%

三、參數配置與性能指標

1.電流/電壓源 VIS自帶VI測量單元

1)加壓(FV)

產品詳細資料請向廠家詢問索取




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