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金霖電子（香港）有限公司
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X射線菲希爾膜厚儀，俗稱鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-RAY膜厚儀等等） 用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費
X射線菲希爾膜厚儀，俗稱鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-RAY膜厚儀等等） 用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費 產品副名稱：應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀 產品型號：XDLM、XUL、XULM、XAN XDVM 技術參數：儀器的特長：廣泛應用型可測元素：Ti～U X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗濾波器：一次濾波器：A1-自動切換二次濾波器：Co-自動切換檢測器：比例計數管 樣品觀察：CCD攝像機 對焦方式：激光自動對焦 測定軟件：世界上zui的FP法。數學計算測量方法， 安全機能：測量室門自鎖功能 Z軸防沖撞功能 儀器自診斷功能 儀器介紹： 測量數據與Word和Excel鏈接自動生成報告和數據處理 產品特點： ★ 能夠測量無鉛焊錫 配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份 ★ 搭載中心搜索軟件 通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。 ★ 擁有防沖功能 ★ 搭載激光對焦系統 ★ 搭載測試報告自動生成軟件 ★ 擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件 ★ 搭載了薄膜FP法軟件
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