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當前位置:揚州市拓騰電氣有限公司(原揚州市蘇博電氣有限公司)>>絕緣材料性能測試儀器>> SB2513鍍膜電阻測試儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號SB2513
品 牌
廠商性質生產(chǎn)商
所 在 地揚州市
更新時間:2016-04-26 02:47:05瀏覽次數(shù):1487次
聯(lián)系我時,請告知來自 智慧城市網(wǎng)*章:概述
薄膜金屬化是生產(chǎn)金屬化有機薄膜電容器的關鍵工序。金屬層的厚度是薄膜金屬化質量的重要參數(shù)之一。它對金屬化薄膜電容器的電性能影響很大,不同用途的金屬化薄膜電容器對金屬層的厚度有不同的要求。而均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻(簡稱方阻)表征。
SB2513鍍膜直流電阻測試儀可方便地測試鍍膜的方阻(每平方厘米電阻量值)。本儀器可用點測和面測兩種方式測試鍍膜的方阻,可更詳細地分析薄膜金屬化的質量。
第二章:安全規(guī)定
2.1 一般規(guī)定
·本機所引用的規(guī)范為Safety Class I 的規(guī)定(機體具有保護用的接地端子)。
·在開啟本機的電源開關前,請先將儀器后面板上的接地柱與大地可靠連接(連接線的規(guī)格不低于AVR0.75平方毫米的多股線。如果確定輸入電源的接地線接地性能良好,接地柱也可不另外接地線。
2.2 維護和保養(yǎng)
2.2.1 使用者的維護
為了防止發(fā)生觸電事故,請不要在通電狀態(tài)下掀開機器的蓋子。如果機器有異常情況發(fā)生,請尋求本單位或經(jīng)銷商的幫助。
2.2.2 定期維護
本儀器的輸入電源線和相關的附件等至少每年仔細檢查和校驗一次, 以保護使用者的安全,測量夾具要經(jīng)常檢查,以保證儀器的測量精確性。
2.2.3 使用者的修改
使用者不得自行修改儀器的線路或零件(否則將影響儀器的測量精度),如被更改,機器的保證則自動失效,并且本單位不負任何責任。使用未經(jīng)本單位認可的任何零部件也不能得到本單位的任何保證。如發(fā)現(xiàn)需要檢修的儀器被更改,本單位將會修復儀器為原來設計的狀態(tài),并收取修護費用。
第三章:安裝要點
本章主要介紹拆封、檢查、使用前的準備和儲存等規(guī)則,沒有特別的按裝要求。
3.1 拆封和檢查
本單位的產(chǎn)品是包裝在一個使用泡棉保護的包裝箱內,如果收到的包裝箱有破損,請檢查機器的外觀是否變形、刮傷、或面板損壞等。如果有損壞,請立即通知本單位或其經(jīng)銷商。并請保留包裝箱和泡棉,以便了解發(fā)生的原因。我們的服務中心會幫您修護或更換新機。在未通知本單位或其經(jīng)銷商前,請勿立即退回產(chǎn)品。
3.2 使用前的準備
3.2.1 輸入電壓的規(guī)定
本測試儀使用220V AC±10%,47.5Hz-52.5Hz單相電源。必須使用正確規(guī)格的保險絲。更換保險絲前,必須先拔掉輸入電源線,以避免危險。
注意!!! 保險絲為
3.2.2 輸入電源的要求
在接上輸入電源之前,必須先確認電源線是否接妥。儀器上的電源插頭只能插在帶有地線的電源插頭上。如果使用延長線,必須注意延長線是否帶有接地線。
3.2.3 使用的環(huán)境條件
溫 度:0—
相對濕度:≦75%RH。
大 氣 壓:86——106kPa。
高 度:在海拔2000公尺(6500英尺)以下。
3.3 儲存和運輸
SB2513型鍍薄直流電阻測試儀可以在下列的條件下儲存和運輸:
周圍溫度...............................—40到—+
高度...................................7620公尺(25000英尺)
本機必須避免溫度的急劇變化,溫度急劇變化可能會使水氣凝結于機體內部。
第四章: 技術規(guī)范
4.1 輸入規(guī)格
項 目 | 規(guī) 格 |
電 壓 | 單相 220VAC 輸入范圍:±10% |
頻 率 | 輸入范圍:47.5Hz-52.5Hz |
4.2 輸出規(guī)格
項 目 | 規(guī) 格 |
測 試 電 流 | DC:1 mA /10mA /100 mA |
電阻測量 | 測量范圍: 0Ω-99.99Ω |
解 析 度: 10mΩ | |
準 確 度(20℃±10℃): ≤±(1%+3個字) | |
方電阻測量范圍 | 0——99.99Ω/cm2 |
4.3 一般規(guī)格說明
項 目 | 說 明 |
記 憶 裝 置 | 可記憶所有設定參數(shù) |
液晶顯示器 | 16×2 點矩陣式具有背光裝置 |
使 用 環(huán) 境 | 工作溫度:0-40℃ 相對濕度:0-75%RH 高 度:海拔2000公尺以下 |
儀器控制器尺寸 | 90 H×280 W×220 D(mm) |
第五章 面板和背板
5.1 面板圖
5.2 面板說明
1 輸入電源開關:(I)
標有標準“I”(ON)和“
2 “設置”鍵:
在設置中作為選擇進入設定模式和選擇參數(shù)設定的操作鍵。
3 “增加”鍵:
在設定模式時作為各項參數(shù)數(shù)值輸入的功能鍵。
4 “移位”鍵:
在設定模式時作為選擇設定參數(shù)的功能鍵。
5 “退出”鍵:
在設置模式中作為離開設定模式之功能鍵。
6 LCD 顯示器:
16字×2行背光式液晶顯示器,作為顯示設定資料或測試狀態(tài)及結果的顯示器。
7 測量指示燈:
在確定的測量中,指示燈閃爍。
8 測量端:(UNKNOWN)
測量線插座
5.3 背板說明
1 輸入電源座:
引入儀器的工作電源。
2 接地柱:
將儀器連大地的接線柱。
3 輸入電源保險絲座:
按放Ф6×18——0.5A保險絲。
先關閉輸入電源開關并拔掉電源線,才能更換保險絲,并且應更換標準規(guī)格的保險絲。
第六章: 中英文對照表
6.1 中英文對照表
序號 | 英文詞語 | 對應中文 |
1 | SET | “設置”鍵 |
2 | EXIT | “退出”鍵 |
3 | INC | “增加”鍵 |
4 | TESTING MODE | 測試模式 |
5 | TEST POINT | 點測試方式 |
6 | TEST AREA | 面測試方式 |
7 | WIDTH | 薄膜寬度 |
8 | SETING WIDTH | 設置薄膜寬度 |
9 | | |
10 | SR | 方阻 |
11 | Scm | 平方厘米 |
12 | POINT RATIO | 點測試系數(shù) |
13 | AREA RATIO | 面測試系數(shù) |
14 | | |
15 | OVER RANGE | 超量程 |
16 | ONLY 0—99.99Ω | 僅測試到99.99Ω/cm2 |
第七章:測試參數(shù)的設定程序
“設置”鍵是進入?yún)?shù)設置模式的設定鍵。當進入設定模式后,按“設置”鍵時,程式會自動轉變參數(shù)項目并依照下列順序滾動:測試模式(TESTING MODE)設定,如果為面測試模式(TEST AERE),再按“設置”鍵時,轉為膜寬設置(WIDTH)模式 ,如果為點測試模式(TEST POINT),按設置鍵不會有的新的顯示。
在設定模式下,“增加”鍵是作為參數(shù)的選擇鍵和項目的變更鍵。“移位”鍵作為選擇參數(shù)位的選擇鍵。
在參數(shù)設定模式下,待設定位在不停地閃爍,按“增加”鍵所增加的即為該位。
每按一次“增加”鍵,顯示器上相應一位會增加“
在測試參數(shù)模式設定下,“退出”鍵被用作為離開測試參數(shù)設定模式的功能鍵。在任何參數(shù)設定模式下,按“退出”鍵均可退出參數(shù)設定模式,并將設定參數(shù)記憶在記憶體內,然后進入到測量狀態(tài)。
在模式設定中,不接受任何不合理的設定和輸入。當有不合理的輸入時,儀器不會發(fā)生任何變化。下列各項參數(shù)設定中的“X”代表0-9范圍的某一個數(shù)值。
7.1 測試參數(shù)設定的準備工作
在測量狀態(tài)下,顯示器顯示:
SR=XX.XXΩ/Scm TEST AERE
SR=XX.XXΩ/Scm TEST POINT
或:
7.2 測試參數(shù)設定模式
7.2.1 測試方式設定(面測試方式或點測試方式)
按一下“設置”鍵,程式會從測量狀態(tài)自動進入測試方式設定,顯示器顯示:
TESTING MODE TEST AERE 測試方式 面測試
=
或:
TESTING MODE TEST POINT 測試方式 點測試
=
按“增加”鍵,顯示器將在以上兩種顯示間切換。在面測試時,測試極采用極板式測試極;在點測試時,測試極采用筆形針式測試極,兩者不可混淆。
注:設置為面測試方式時,一定要確定薄膜的寬度是否設置及其是否正確。
7.2.2 薄膜寬度設定(FILM WIDTH)
在設定為面測試方式后,后按一下“設置”鍵,程式會進入薄膜寬度設定模式,顯示器會顯示:
SETING WIDTH W=XX.XX cm 設置薄膜寬度 W=XX.XX 厘米
=
7.2.3 設定參數(shù)及功能的檢查和退出設定模式
在各項參數(shù)均已設定完成后,按“設置”鍵可對各項設置參數(shù)進進行檢查,如有誤,可
繼續(xù)修改。要退出設定模式,只有按“退出”鍵。并在任一參數(shù)設置模式下退出均有效。退出時儀器記憶下您所修改的參數(shù),并且不會丟失您沒有修改的參數(shù)。
第八章:操作程序及步驟
SB2513型鍍膜直流電阻測量儀專門用來測量均勻平面薄層材料每平方厘米內的電阻量值。其操作和設定都非常簡便。在測試中請正確應用測試極。
請按下列程序和步聚操作本儀器。
8.1 關掉儀器電源開關后正確連接上電源線。
8.2 開啟儀器電源開關,儀器經(jīng)開機顯示后進入測量狀態(tài)。
JEWELBELL 2513 FILM OMEMETER
SR=XX.XXΩ/Scm AERE TESTING
或:
SR=XX.XXΩ/Scm POINT TESTING
8.3 按您的測試要求設定參數(shù)(參見第七章)
8.3.1 面測試方式測量
在面測試方式測量時選用極板測試極測試。一般選用的極板極的寬度不低于被測試薄膜的寬度,但極板的寬度適當小于被測試薄膜時通常不會引起較大誤差。而需注意的是被測試薄膜的寬度一定要設置正確(注意去掉薄膜的“留邊”)。測試數(shù)據(jù)中小數(shù)點后第二位的數(shù)值一般可忽略不計。采用面測試方式測量所得的是被測試區(qū)域的平均方阻值。
面測試方式是一種比較正確的方阻測量方式,是根據(jù)方阻測量的基本原理對方阻進行測試的。在對寬度較窄的鍍膜測試時,可以將極板斜側測試,所引起的誤差通常可以忽略不計。
8.3.2 點測試方式測量
在點測試方式測量時選用筆形針式測試極。在這種測量方式時不用考慮被測試薄膜的寬度,當然,被測試薄膜的尺寸極小時也會引起較大的測量誤差。測試數(shù)據(jù)中小數(shù)點后第二位的數(shù)值一般可忽略不計。采用點測試方式測量所得的是被測試點的局部方阻值。
在測試中,如果沒有接觸好,測試指示燈不亮。在正常測試時,測試指示燈閃爍,此時的測試量值才是有效的。當被測試材料的電阻值大于或等于100Ω,或者方阻量值大于或等于100Ω時,儀器顯示超量程:
OVER RANGE ONLY 0——99.99Ω
第九章:校對步驟
SB2513鍍膜直流電阻測試儀的測量精度用測量電阻的方式校對。
9.1 校對用電阻
校對時所需要的標準電阻分別為:1.000Ω,10.00Ω和100.0Ω。
9.2 校對步驟
9.2.1 將儀器的測試方式設置為面測方式。
9.2.2 將測試寬度設置為
9.2.3 分別將各電阻的兩引腳用裸導線加長。
9.2.4 用測試電極按以下方式壓緊(確保接觸良好):
9.2.5 記錄測試時儀器分別顯示的量值:
測試1.000Ω時儀器顯示:0.99Ω/Scm(歐姆每平方厘米)。
測試10.00Ω時儀器顯示:9.99Ω/Scm。
測試100.0Ω時儀器顯示:99.99Ω/Scm。
9.3 校對結果判定
9.3.1 儀器測量精度為±(1%+3個字)。
9.3.2 如有超差,請檢修。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
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