表面磁光克爾效應實驗系統在 1845年，Michael Faraday首先發現了磁光效應，他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁極反射出來時，發現了磁光克爾效應（magneto-optic Kerr effect

詳細介紹

產品名稱：表面磁光克爾效應實驗系統北京
儀器型號：FD.12-FD-SMOKE-A型
產品描述
（2008年榮獲第五屆全國高校物理實驗教學儀器評比一等獎）
在1845年，MichaelFaraday首先發現了磁光效應，他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年JohnKerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁極反射出來時，發現了磁光克爾效應（magneto-opticKerreffect）。1985年Moog和Bader兩位學者進行鐵超薄膜磊晶成長在金單晶（100）面上的磁光克爾效應量做實驗，成功地得到一原子層厚度磁性物質之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應（surfacemagneto-opticKerreffect）的縮寫，用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達一原子層厚度，且儀器配置合于超高真空系統之工作，因而成為表面磁學的重要研究方法。
由本公司生產的表面磁光克爾效應實驗系統是表面磁性研究中的一種重要手段，它在磁性超薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性超薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和超高真空系統相連，對磁性薄膜和超薄膜進行原位測量。
儀器主要技術參數：
1．半導體激光器波長650nm輸出功率2mW
2．偏振棱鏡格蘭－湯普遜棱鏡通光孔徑8mm消光比10－5主透射比90％
3．電磁磁鐵中心zui大磁感應強度0.3T磁間隙30mm
4．精密恒流電源zui大電壓38Vzui大輸出電流10A

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