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科邁斯(深圳)科學(xué)儀器有限公司


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K-600便攜式礦石分析儀

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更新時間:2023-09-27 12:41:06瀏覽次數(shù):284次

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所在地區(qū):

產(chǎn)品簡介

K-600便攜式礦石分析儀非常堅固耐用,可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求的應(yīng)用

詳細介紹

产品说明

K-600便攜式礦石分析儀非常堅固耐用,可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求的應(yīng)用。 每臺設(shè)備都應(yīng)用了科邁斯新開發(fā)的KMX技術(shù),這種技術(shù)是XRF信號處理方面的一項革新,可提供精確無誤、重復(fù)性的結(jié)果,從而使用戶獲得更高的生產(chǎn)力,并快速得到投資回報。k-600可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),性同位素,現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結(jié)果準(zhǔn)確,能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試。科邁斯手持式 k-600分析儀可對各種礦石進行多元素分析,廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測和分析,還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。



产品参数

K-600手持式礦石分析儀
秉承科邁斯多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗,KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來了一場分析領(lǐng)域的革命。K-600引入數(shù)字多道技術(shù),使檢出限更低,穩(wěn)定性更高,適用面更廣,性能媲美臺式機;小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用,使探礦工作更為簡單、輕松。K-600手持式礦石分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),性同位素,現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結(jié)果準(zhǔn)確,能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試

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XRF資料建模技術(shù):

1、X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌上型電腦),從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色,并具有的升級潛力。

2、使用了*的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法,可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)"來進行定量分析,而不需要進行專門的校正。

3、基本參數(shù)分析:采用半定量分析方式,適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。

4、實驗校正法:利用“校正曲線"進行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。

5、配備了光譜高點識別軟體,可在顯示幕查看光譜

6、對比光譜,參考內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)完成比較分析。


地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢
檢測元素:標(biāo)準(zhǔn)配置可檢測30多種元素,同時可按客戶需求增加檢測元素
專業(yè)性:礦石專用版分析軟件,采用智能一鍵測試
*個性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加,根據(jù)客戶需求定制工作模式。
*充分挖掘礦山價值

高清攝像頭,可對被檢測的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察,并對開采過程進行精確管理和控制,隨時檢測礦石品位。
*對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進行精確快速分析,為礦石品位的測定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判定依據(jù)。
*環(huán)境監(jiān)控
對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監(jiān)測和檢測,評估礦山環(huán)境的修復(fù)情況,限度的監(jiān)測好礦山周邊的環(huán)境。



主要用途:

手持式礦石分析儀,用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定。

1.主要配置要求:

1.1 礦石分析儀主機1套;

1.2 標(biāo)準(zhǔn)樣品1個;

1.3 原裝可充電鋰電池2塊;

1.4 充電座及電源線;

1.5 U盤(32G)1個;

1.6 加強型聚丙烯膜5片;

1.7 標(biāo)準(zhǔn)手提防潮防震箱一只。


技術(shù)參數(shù)及要求

1、檢測元素:可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素,Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(紅色為SDD探測器配置)

2、探測器:美國Moxtek Si-pin(6 mm2)、美國Amptek Si-pin(25 mm2)、德國KETEK SDD探測器 

3、激發(fā)源:大功率微型直板X射線管,W靶材,4W大功率X射線管,管電壓50KV,管電流可達100μA;

4、采用KMX技術(shù),更高X射線計數(shù)率,超低電子噪聲設(shè)計。每次測試前,不需要外部標(biāo)樣,自動能量校準(zhǔn)核查;

5、濾光片:配置8個濾光片,可根據(jù)測試元素自動切換;

6、測試方法:基本參數(shù)法,支持經(jīng)驗系數(shù)法修正

7、點觸或扣動扳機控制測試開始,測試過程無需長扣扳機。根據(jù)客戶需求,也可以一直按著扳機測試樣品。

8、操作系統(tǒng):Window CE 6.0操作系統(tǒng),安全、放心

9、自診斷功能:儀器可自動對硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進行診斷,并會生成日志,便于快速排查出故障

10、標(biāo)配模式:礦石模式;選配模式:合金分析模式、土壤分析模式

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