詳細摘要: 熱阻測試系統測試參數:可測試器件穩態熱阻Rth(J-C)散熱:設備采用水冷散熱,用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性
產品型號:T3Ster所在地:西安市更新時間:2024-05-27 在線留言通信電纜 網絡設備 無線通信 云計算|大數據 顯示設備 存儲設備 網絡輔助設備 信號傳輸處理 多媒體設備 廣播系統 智慧城市管理系統 其它智慧基建產品
西安天光測控技術有限公司
詳細摘要: 熱阻測試系統測試參數:可測試器件穩態熱阻Rth(J-C)散熱:設備采用水冷散熱,用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性
產品型號:T3Ster所在地:西安市更新時間:2024-05-27 在線留言詳細摘要: 分鐘級功率循環試驗臺測試范圍:Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的分鐘級...
產品型號:ST-Thermal_PCmin所在地:西安市更新時間:2024-05-26 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
智慧城市網 設計制作,未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產品
請簡單描述您的需求
請選擇省份